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tu |
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| 100 |
1 |
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|
| 245 |
1 |
0 |
|a Entwicklung eines optischen Verfahrens zum Nachweis von Partikeln auf strukturierten Oberflächen
|c vorgelegt von Matthias Botz
|
| 264 |
|
1 |
|c 1992
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| 300 |
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|a 78 Bl.
|b Ill., graph. Darst.
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| 336 |
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|a Text
|b txt
|2 rdacontent
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| 337 |
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|a ohne Hilfsmittel zu benutzen
|b n
|2 rdamedia
|
| 338 |
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|a Band
|b nc
|2 rdacarrier
|
| 502 |
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|a Heidelberg, Univ., Diss., 1992
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| 583 |
1 |
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|a Archivierung prüfen
|c 20200919
|f DE-640
|z 2
|2 pdager
|
| 583 |
1 |
|
|a Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
|f DISS
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|2 pdager
|5 DE-16
|
| 655 |
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7 |
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|
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|
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|a Mikroskop
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| 990 |
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|
|a Laser
|
| 990 |
|
|
|a Teilchenmesstechnik
|
| 990 |
|
|
|a Teilchendetektor
|
| 990 |
|
|
|a Festkörperoberfläche
|
| 992 |
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|g 171986105
|a Botz, Matthias
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| SRT |
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