Untersuchung photovoltaischer Eigenschaften von Halbleiteroberflächen mit Rastertunnelmikroskopie und Photoelektronenspektroskopie

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hagen, Tobias (Autor)
Formato: Book/Monograph Tesis
Lenguaje:alemán
Publicado: 1997
Materias:
Acceso en línea: Enlace del recurso
Notas de Autor:vorgelegt von Tobias Hagen
Descripción
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