Pattern recognition: proceedings

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Bibliographic Details
Previous Title:Mustererkennung
Corporate Author: Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung (Other)
Format: Conference Paper
Language:English
Published: Berlin Heidelberg [u.a.] Springer 20XX-
Series:Lecture notes in computer science ...
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Subjects:
Online Access: Get full text
Author Notes:DAGM Symposium

MARC

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