Heitz, M. (2002). Niederfrequente Messungen an abschreckend kondensierten Edelgasfilmen und strukturellen Gläsern: Untersuchungen mit mechanischen Oszillatoren.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Heitz, Markus. Niederfrequente Messungen an Abschreckend Kondensierten Edelgasfilmen Und Strukturellen Gläsern: Untersuchungen Mit Mechanischen Oszillatoren. 2002.
Citatione MLA (9a ed.)Heitz, Markus. Niederfrequente Messungen an Abschreckend Kondensierten Edelgasfilmen Und Strukturellen Gläsern: Untersuchungen Mit Mechanischen Oszillatoren. 2002.
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