Niederfrequente Messungen an abschreckend kondensierten Edelgasfilmen und strukturellen Gläsern: Untersuchungen mit mechanischen Oszillatoren

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Auteur principal: Heitz, Markus (Auteur)
Format: Book/Monograph Thèse
Langue:allemand
Publié: 2002
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Niederfrequente Messungen an abschreckend kondensierten Edelgasfilmen und strukturellen Gläsern: Untersuchungen mit mechanischen Oszillatoren par Heitz, Markus (Auteur)

2002

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