Adaptive wavefront correction in two-photon microscopy using coherence-gated wavefront sensing

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rückel, Markus (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Book/Monograph Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2006
Schlagworte:
Online-Zugang: Volltext
Verfasserangaben:presented by Markus Rückel
Beschreibung
Beschreibung:Zsfassung in dt. Sprache