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Visualization and quantitative analysis of reconstituted tight junctions using localization microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Kaufmann, Rainer (BerichterstatterIn) , Piontek, Jörg (BerichterstatterIn) , Grüll, Frederik (BerichterstatterIn) , Tangl, Manfred (BerichterstatterIn) , Rossa, Jan (BerichterstatterIn) , Wolburg, Hartwig (BerichterstatterIn) , Blasig, Ingolf E. (BerichterstatterIn) , Cremer, Christoph (BerichterstatterIn)
Dokumenttyp: Article (Journal)
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2012
In: PLOS ONE
Year: 2012, Jahrgang: 7, Heft: 2, Pages: 1-9
ISSN:1932-6203
DOI:10.1371/journal.pone.0031128
Online-Zugang:Resolving-System, Volltext: http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0031128
Volltext
Verfasserangaben:Rainer Kaufmann, Jörg Piontek, Frederik Grüll, Manfred Kirchgessner, Jan Rossa, Hartwig Wolburg, Ingolf E. Blasig, Christoph Cremer
Beschreibung
Beschreibung:Online Resource
ISSN:1932-6203
DOI:10.1371/journal.pone.0031128

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