Ufer, N., & Ommer, B. (2017). Deep semantic feature matching. 2017 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR). https://doi.org/10.1109/CVPR.2017.628
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Ufer, Nikolai, und Björn Ommer. "Deep Semantic Feature Matching." 2017 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR) 2017. https://doi.org/10.1109/CVPR.2017.628.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Ufer, Nikolai, und Björn Ommer. "Deep Semantic Feature Matching." 2017 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 2017, https://doi.org/10.1109/CVPR.2017.628.
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