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Bestimmung der elastischen Konstanten von Halbleiter- und Diamantschichten mittels Oberflächenwellenspektroskopie
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:
Kuschnereit, Ralf
(VerfasserIn)
Dokumenttyp:
Buch/Monographie
Hochschulschrift
Sprache:
Deutsch
Veröffentlicht:
1997
Schlagworte:
Hochschulschrift
Oberflächenwelle
Dünne Schicht
Polykristall
Diamant
Amorpher Halbleiter
Silicium
Online-Zugang:
Verfasserangaben:
vorgelegt von Ralf Kuschnereit
Beschreibung
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