Schmohl, A. (2004). Charakterisierung silylterminierter Siliziumdioxidoberflächen mit thermischer Desorptionsspektroskopie und oberflächensensitiven Analysenmethoden. https://doi.org/10.11588/heidok.00004862
Chicago Style (17th ed.) CitationSchmohl, Andreas. Charakterisierung Silylterminierter Siliziumdioxidoberflächen Mit Thermischer Desorptionsspektroskopie Und Oberflächensensitiven Analysenmethoden. 2004. https://doi.org/10.11588/heidok.00004862.
MLA (9th ed.) CitationSchmohl, Andreas. Charakterisierung Silylterminierter Siliziumdioxidoberflächen Mit Thermischer Desorptionsspektroskopie Und Oberflächensensitiven Analysenmethoden. 2004. https://doi.org/10.11588/heidok.00004862.
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