Charakterisierung silylterminierter Siliziumdioxidoberflächen mit thermischer Desorptionsspektroskopie und oberflächensensitiven Analysenmethoden

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schmohl, Andreas (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Buch/Monographie Hochschulschrift
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: 2004
DOI:10.11588/heidok.00004862
Schlagworte:
Online-Zugang:Resolving-System, kostenfrei, Volltext: https://doi.org/10.11588/heidok.00004862
Verlag, kostenfrei, Volltext: https://archiv.ub.uni-heidelberg.de/volltextserver/4862/
Volltext
Verfasserangaben:Andreas Schmohl

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