Infrarotspektroskopische Untersuchung von Siliziumoxiden, Silikaten, deren Wechselwirkung mit Metallinselfilmen sowie Dampfdruckmessungen an Siliziummonoxid
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Buch/Monographie Hochschulschrift |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
2012
|
| DOI: | 10.11588/heidok.00013967 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671 Resolving-System, Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, Volltext: http://d-nb.info/1177039664/34 Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/13967 Resolving-System, Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00013967 
|
| Verfasserangaben: | Steffen Wetzel |
MARC
| LEADER | 00000cam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 1651927073 | ||
| 003 | DE-627 | ||
| 005 | 20240706230425.0 | ||
| 007 | cr uuu---uuuuu | ||
| 008 | 121211s2012 gw |||||om 00| ||ger c | ||
| 016 | 7 | |a 1177039664 |2 DE-101 | |
| 024 | 7 | |a urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671 |2 urn | |
| 024 | 7 | |a 10.11588/heidok.00013967 |2 doi | |
| 035 | |a (DE-627)1651927073 | ||
| 035 | |a (DE-576)376254629 | ||
| 035 | |a (DE-599)BSZ376254629 | ||
| 035 | |a (OCoLC)824660234 | ||
| 035 | |a (OCoLC)824660234 | ||
| 040 | |a DE-627 |b ger |c DE-627 |e rakwb | ||
| 041 | |a ger | ||
| 044 | |c XA-DE-BW | ||
| 082 | 0 | |a 530.4175 |q DE-101 | |
| 082 | 0 | 4 | |a 530 |q DE-101 |
| 084 | |a 29 |2 sdnb | ||
| 084 | |a 29 |2 sdnb | ||
| 100 | 1 | |a Wetzel, Steffen |d 1982- |0 (DE-588)1026158672 |0 (DE-627)726209430 |0 (DE-576)371435668 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Infrarotspektroskopische Untersuchung von Siliziumoxiden, Silikaten, deren Wechselwirkung mit Metallinselfilmen sowie Dampfdruckmessungen an Siliziummonoxid |c Steffen Wetzel |
| 247 | 1 | 0 | |a Infrared spectroscopic investigation of silicon oxides, silicates and their interaction with metal island films and vapour pressure measurements of silicon monoxide |f Übers. des Hauptsacht. |
| 264 | 1 | |c 2012 | |
| 300 | |a Online-Ressource | ||
| 336 | |a Text |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |a Computermedien |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |a Online-Ressource |b cr |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Heidelberg, Univ., Diss., 2012 | ||
| 655 | 7 | |a Hochschulschrift |0 (DE-588)4113937-9 |0 (DE-627)105825778 |0 (DE-576)209480580 |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |d s |0 (DE-588)4135411-4 |0 (DE-627)105665282 |0 (DE-576)209660511 |a Infrarotspektroskopie |2 gnd |
| 689 | 0 | 1 | |d s |0 (DE-588)4124194-0 |0 (DE-627)105749516 |0 (DE-576)209566078 |a Siliciumverbindungen |2 gnd |
| 689 | 0 | |5 (DE-627) | |
| 751 | |a Heidelberg |0 (DE-588)4023996-2 |0 (DE-627)106300814 |0 (DE-576)208952578 |4 uvp | ||
| 776 | 0 | 8 | |i Erscheint auch als |n Druck-Ausgabe |a Wetzel, Steffen, 1982 - |t Infrarotspektroskopische Untersuchung von Siliziumoxiden, Silikaten, deren Wechselwirkung mit Metallinselfilmen sowie Dampfdruckmessungen an Siliziummonoxid |d 2012 |h IX, 169 S. |w (DE-627)1446532542 |w (DE-576)376532548 |
| 856 | 4 | 0 | |u http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671 |q application/pdf |x Resolving-System |z kostenfrei |3 Volltext |
| 856 | 4 | 0 | |u https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671 |v 2019-08-23 |x Resolving-System |3 Volltext |
| 856 | 4 | 0 | |u http://d-nb.info/1177039664/34 |v 2019-08-23 |x Langzeitarchivierung Nationalbibliothek |3 Volltext |
| 856 | 4 | 0 | |u http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/13967 |v 2019-08-23 |x Verlag |z kostenfrei |3 Volltext |
| 856 | 4 | 2 | |u https://doi.org/10.11588/heidok.00013967 |v 2019-08-23 |x Resolving-System |3 Unbekannt |
| 912 | |a GBV-ODiss | ||
| 951 | |a BO | ||
| 990 | |a Siliciumverbindungen | ||
| 990 | |a Infrarotspektroskopie | ||
| 992 | |a 20130819 | ||
| 993 | |a Thesis | ||
| 994 | |a 2012 | ||
| 998 | |g 1026158672 |a Wetzel, Steffen |m 1026158672:Wetzel, Steffen |d 130000 |d 130001 |e 130000PW1026158672 |e 130001PW1026158672 |k 0/130000/ |k 1/130000/130001/ |p 1 |x j |y j | ||
| 999 | |a KXP-PPN1651927073 |e 3355055220 | ||
| BIB | |a Y | ||
| JSO | |a {"physDesc":[{"extent":"Online-Ressource"}],"origin":[{"dateIssuedDisp":"2012","dateIssuedKey":"2012"}],"id":{"uri":["urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671"],"doi":["10.11588/heidok.00013967"],"eki":["1651927073"]},"name":{"displayForm":["Steffen Wetzel"]},"titleAlt":[{"title":"Infrared spectroscopic investigation of silicon oxides, silicates and their interaction with metal island films and vapour pressure measurements of silicon monoxide"}],"type":{"bibl":"thesis","media":"Online-Ressource"},"recId":"1651927073","language":["ger"],"title":[{"title":"Infrarotspektroskopische Untersuchung von Siliziumoxiden, Silikaten, deren Wechselwirkung mit Metallinselfilmen sowie Dampfdruckmessungen an Siliziummonoxid","title_sort":"Infrarotspektroskopische Untersuchung von Siliziumoxiden, Silikaten, deren Wechselwirkung mit Metallinselfilmen sowie Dampfdruckmessungen an Siliziummonoxid"}],"person":[{"role":"aut","display":"Wetzel, Steffen","given":"Steffen","family":"Wetzel"}],"noteThesis":["Heidelberg, Univ., Diss., 2012"]} | ||
| SRT | |a WETZELSTEFINFRAROTSP2012 | ||