Infrarotspektroskopische Untersuchung von Siliziumoxiden, Silikaten, deren Wechselwirkung mit Metallinselfilmen sowie Dampfdruckmessungen an Siliziummonoxid

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wetzel, Steffen (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Buch/Monographie Hochschulschrift
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: 2012
DOI:10.11588/heidok.00013967
Schlagworte:
Online-Zugang:Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671
Resolving-System, Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-139671
Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, Volltext: http://d-nb.info/1177039664/34
Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/13967
Resolving-System, Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00013967
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Verfasserangaben:Steffen Wetzel
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Beschreibung:Online Resource
DOI:10.11588/heidok.00013967