Infrarotspektroskopische Untersuchung der p-Dotierung organischer Halbleiter mit Übergangsmetalloxiden
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Buch/Monographie Hochschulschrift |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
2013
|
| DOI: | 10.11588/heidok.00014848 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-148481 Resolving-System, Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-148481 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, Volltext: http://d-nb.info/1177148692/34 Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/14848 Resolving-System, Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00014848 |
| Verfasserangaben: | Tobias Glaser |
MARC
| LEADER | 00000cam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 1652310843 | ||
| 003 | DE-627 | ||
| 005 | 20240706231158.0 | ||
| 007 | cr uuu---uuuuu | ||
| 008 | 130423s2013 gw |||||om 00| ||ger c | ||
| 016 | 7 | |a 1177148692 |2 DE-101 | |
| 024 | 7 | |a urn:nbn:de:bsz:16-heidok-148481 |2 urn | |
| 024 | 7 | |a 10.11588/heidok.00014848 |2 doi | |
| 035 | |a (DE-627)1652310843 | ||
| 035 | |a (DE-576)381480372 | ||
| 035 | |a (DE-599)BSZ381480372 | ||
| 035 | |a (OCoLC)843483268 | ||
| 035 | |a (OCoLC)843483268 | ||
| 040 | |a DE-627 |b ger |c DE-627 |e rakwb | ||
| 041 | |a ger | ||
| 044 | |c XA-DE-BW | ||
| 082 | 0 | |a 537.6221 |q DE-101 | |
| 082 | 0 | |a 537.622 |q DE-101 | |
| 082 | 0 | 4 | |a 530 |q DE-101 |
| 084 | |a 29 |2 sdnb | ||
| 084 | |a 29 |2 sdnb | ||
| 100 | 1 | |a Glaser, Tobias |d 1982- |0 (DE-588)1033819654 |0 (DE-627)743831330 |0 (DE-576)381480305 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Infrarotspektroskopische Untersuchung der p-Dotierung organischer Halbleiter mit Übergangsmetalloxiden |c Tobias Glaser |
| 247 | 1 | 0 | |a Infrared spectroscopic study of p-type doping of organic semiconductors with transition metal oxides |f Übers. des Hauptsacht. |
| 264 | 1 | |c 2013 | |
| 300 | |a Online-Ressource | ||
| 336 | |a Text |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |a Computermedien |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |a Online-Ressource |b cr |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Mit engl. Zs.fass | ||
| 502 | |a Heidelberg, Univ., Diss., 2013 | ||
| 650 | 0 | 7 | |0 (DE-588)4135411-4 |0 (DE-627)105665282 |0 (DE-576)209660511 |a Infrarotspektroskopie |2 gnd |
| 650 | 0 | 7 | |0 (DE-588)7735306-7 |0 (DE-627)647339781 |0 (DE-576)337554161 |a Polymerelektronik |2 gnd |
| 650 | 0 | 7 | |0 (DE-588)4130672-7 |0 (DE-627)104629207 |0 (DE-576)209620943 |a Dotierung |2 gnd |
| 655 | 7 | |a Hochschulschrift |0 (DE-588)4113937-9 |0 (DE-627)105825778 |0 (DE-576)209480580 |2 gnd-content | |
| 751 | |a Heidelberg |0 (DE-588)4023996-2 |0 (DE-627)106300814 |0 (DE-576)208952578 |4 uvp | ||
| 776 | 0 | 8 | |i Erscheint auch als |n Druck-Ausgabe |a Glaser, Tobias, 1982 - |t Infrarotspektroskopische Untersuchung der p-Dotierung organischer Halbleiter mit Übergangsmetalloxiden |d 2013 |h IX, 161 S. |w (DE-627)1453032525 |w (DE-576)383032520 |
| 856 | 4 | 0 | |u http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-148481 |q application/pdf |x Resolving-System |z kostenfrei |3 Volltext |
| 856 | 4 | 0 | |u https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-148481 |v 2019-08-23 |x Resolving-System |3 Volltext |
| 856 | 4 | 0 | |u http://d-nb.info/1177148692/34 |v 2019-08-23 |x Langzeitarchivierung Nationalbibliothek |3 Volltext |
| 856 | 4 | 0 | |u http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/14848 |v 2019-08-23 |x Verlag |z kostenfrei |3 Volltext |
| 856 | 4 | 2 | |u https://doi.org/10.11588/heidok.00014848 |v 2019-08-23 |x Resolving-System |3 Unbekannt |
| 912 | |a GBV-ODiss | ||
| 951 | |a BO | ||
| 992 | |a 20131115 | ||
| 993 | |a Thesis | ||
| 994 | |a 2013 | ||
| 998 | |g 1033819654 |a Glaser, Tobias |m 1033819654:Glaser, Tobias |d 130000 |d 130001 |e 130000PG1033819654 |e 130001PG1033819654 |k 0/130000/ |k 1/130000/130001/ |p 1 |x j |y j | ||
| 999 | |a KXP-PPN1652310843 |e 3359385578 | ||
| BIB | |a Y | ||
| JSO | |a {"titleAlt":[{"title":"Infrared spectroscopic study of p-type doping of organic semiconductors with transition metal oxides"}],"language":["ger"],"recId":"1652310843","note":["Mit engl. Zs.fass"],"type":{"bibl":"thesis","media":"Online-Ressource"},"title":[{"title_sort":"Infrarotspektroskopische Untersuchung der p-Dotierung organischer Halbleiter mit Übergangsmetalloxiden","title":"Infrarotspektroskopische Untersuchung der p-Dotierung organischer Halbleiter mit Übergangsmetalloxiden"}],"noteThesis":["Heidelberg, Univ., Diss., 2013"],"person":[{"role":"aut","display":"Glaser, Tobias","given":"Tobias","family":"Glaser"}],"physDesc":[{"extent":"Online-Ressource"}],"id":{"uri":["urn:nbn:de:bsz:16-heidok-148481"],"doi":["10.11588/heidok.00014848"],"eki":["1652310843"]},"origin":[{"dateIssuedKey":"2013","dateIssuedDisp":"2013"}],"name":{"displayForm":["Tobias Glaser"]}} | ||
| SRT | |a GLASERTOBIINFRAROTSP2013 | ||