Artifact correction and real-time scatter estimation for X-ray computed tomography in industrial metrology
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Dokumenttyp: | Book/Monograph Hochschulschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Heidelberg
2019
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| DOI: | 10.11588/heidok.00026701 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Verlag, kostenfrei, Volltext: https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-267010 Verlag, kostenfrei, Volltext: http://dx.doi.org/10.11588/heidok.00026701 Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/26701 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, Volltext: http://d-nb.info/1191760596/34 Resolving-System, Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-267010 Resolving-System, Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00026701 
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| Verfasserangaben: | put forward by M.Sc. Joscha Maier |
| Beschreibung: | Online Resource |
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| DOI: | 10.11588/heidok.00026701 |