Schuh, M. (2019). Simulations of the image charge effect in high-precision Penning traps and the new IGISOL ion buncher. https://doi.org/10.11588/heidok.00026485
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schuh, Marc. Simulations of the Image Charge Effect in High-precision Penning Traps and the New IGISOL Ion Buncher. Heidelberg, 2019. https://doi.org/10.11588/heidok.00026485.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schuh, Marc. Simulations of the Image Charge Effect in High-precision Penning Traps and the New IGISOL Ion Buncher. 2019. https://doi.org/10.11588/heidok.00026485.
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