Simulations of the image charge effect in high-precision Penning traps and the new IGISOL ion buncher

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schuh, Marc (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Buch/Monographie Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Heidelberg [2019?]
Schlagworte:
Online-Zugang: Volltext
Verfasserangaben:put forward by Marc Schuh ; referees: Prof. Dr. Klaus Blaum [und ein weiterer Gutachter]
Beschreibung
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