Simulations of the image charge effect in high-precision Penning traps and the new IGISOL ion buncher

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Schuh, Marc (Auteur)
Format: Book/Monograph Thèse
Langue:anglais
Publié: Heidelberg [2019?]
Sujets:
Accès en ligne: Accéder au texte intégral
Notes sur l'auteur:put forward by Marc Schuh ; referees: Prof. Dr. Klaus Blaum [und ein weiterer Gutachter]