Die Messung später elektrisch evozierter Potentiale des auditorischen Systems bei CI-Patienten
Bei der Einstellung der Sprachprozessoren von Patienten, die mit einem ”cochlea-implantat” (CI) versorgt sind, tritt häufig das Problem auf, daß die subjektiven Angaben des Patienten für eine exakte Einstellung der Stimulationsgrenzen (T- und C-Level) nicht genau genug sind. Objektive Verfahren, w...
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| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
1998
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| In: |
HNO
Year: 1998, Jahrgang: 46, Heft: 8, Pages: 739-747 |
| ISSN: | 1433-0458 |
| DOI: | 10.1007/s001060050304 |
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| 520 | |a Bei der Einstellung der Sprachprozessoren von Patienten, die mit einem ”cochlea-implantat” (CI) versorgt sind, tritt häufig das Problem auf, daß die subjektiven Angaben des Patienten für eine exakte Einstellung der Stimulationsgrenzen (T- und C-Level) nicht genau genug sind. Objektive Verfahren, wie die Messung elektrisch evozierter Potentiale des auditorischen Systems (AEP), können hingegen in vielen Fällen einen Teil der benötigten Information liefern. Unter den verschiedenen AEP zeichnen sich die späten kortikalen Komponenten (SAEP) dadurch aus, daß sie von technischen Artefakten nur wenig beeinträchtigt werden. Sie können daher ohne besondere Vorkehrungen bei Reizung mit Ton- oder Rauschpulsen im freien Schallfeld gemessen werden. Die aus den Potentialkurven abgelesene Reizantwortschwelle korreliert gut mit der subjektiven akustischen Schwelle des CI-Patienten (Aufblähkurve). Mit ihrer Hilfe kann die Richtigkeit der eingestellten T-Level in frequenzspezifischer Weise überprüft werden. Anders als die Messung früher elektrisch evozierter AEP ermöglicht die Messung der SAEP eine integrale Funktionskontrolle von Mikrophon, Sprachprozessor und Implantat. Dem Nachteil der möglicherweise eingeschränkten Anwendbarkeit bei Kindern steht der Vorteil gegenüber, daß mit den SAEP eine sehr nah an der Wahrnehmungsebene entstehende kortikale Aktivität erfaßt wird. | ||
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