bsEELS: a new method for electron energy loss spectroscopy on backscattered electrons inside a scanning electron microscope
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Dokumenttyp: | Buch/Monographie Hochschulschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Heidelberg
31 Jul. 2024
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| DOI: | 10.11588/heidok.00035203 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Resolving-System, kostenfrei: https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-352032 Resolving-System, kostenfrei: https://doi.org/10.11588/heidok.00035203 Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/35203 Resolving-System, kostenfrei: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-352032 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, kostenfrei: https://d-nb.info/133755555X/34 
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| Verfasserangaben: | put forward by Daniel Ryklin ; Referees: Prof. Dr. Rasmus R. Schröder [und ein weiterer Gutachter] |
| Beschreibung: | Online Resource |
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| DOI: | 10.11588/heidok.00035203 |