Straggling in underdepleted ultra-thin silicon HV-CMOS sensors

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Immig, David (Verfasst von)
Dokumenttyp: Buch/Monographie Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Heidelberg Universitätsbibliothek Heidelberg 6. Februar 2026
Schlagworte:
Online-Zugang:Resolving-System, kostenfrei: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-380333
Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, kostenfrei: https://d-nb.info/1389207439/34
Volltext
Verfasserangaben:$hput forward by David Maximilian Immig ; referees: Prof. Dr. André Schöning [und ein weiterer Gutachter]
Beschreibung
Beschreibung:Online Resource