Adaptive wavefront correction in two-photon microscopy using Coherence-Gated Wavefront Sensing

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rückel, Markus (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Book/Monograph Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2006
Schlagworte:
Online-Zugang:Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-opus-70619
Verlag, Volltext: http://archiv.ub.uni-heidelberg.de/volltextserver/volltexte/2007/7061
Volltext
Verfasserangaben:Markus Rückel

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