Suchergebnisse - Birk, U.

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    Measurement of replication structures at the nanometer scale using super-resolution light microscopy von Baddeley, David (VerfasserIn) , Chagin, V. O. (VerfasserIn) , Schermelleh, L. (VerfasserIn) , Martin, S. (VerfasserIn) , Pombo, A. (VerfasserIn) , Carlton, P. M. (VerfasserIn) , Gahl, A. (VerfasserIn) , Domaing, P. (VerfasserIn) , Birk, U. (VerfasserIn) , Leonhardt, H. (VerfasserIn) , Cremer, Christoph (VerfasserIn) , Cardoso, M. C. (VerfasserIn) ,


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    Model based precision structural measurements on barely resolved objects von Baddeley, David (VerfasserIn) , Weiland, Y. (VerfasserIn) , Batram, C. (VerfasserIn) , Birk, U. (VerfasserIn) , Cremer, Christoph (VerfasserIn) ,


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