Spectroscopic thickness and quality metrics for PtSe2 layers produced by top-down and bottom-up techniques
von Szydłowska, Beata Maria (VerfasserIn)
, Hartwig, Oliver (VerfasserIn)
, Tywoniuk, Bartlomiej (VerfasserIn)
, Hartman, Tomáš (VerfasserIn)
, Stimpel-Lindner, Tanja (VerfasserIn)
, Sofer, Zdeněk (VerfasserIn)
, McEvoy, Niall (VerfasserIn)
, Duesberg, Georg S (VerfasserIn)
, Backes, Claudia (VerfasserIn)
,
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