Pattern recognition / 29 Heidelberg, Germany, September 12 - 14, 2007; Proceedings / Fred A. Hamprecht, Christoph Schnörr, Bernd Jähne (eds.)

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Symposium Mustererkennung (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Hamprecht, Fred (HerausgeberIn) , Jähne, Bernd (HerausgeberIn) , Schnörr, Christoph (HerausgeberIn)
Dokumenttyp: Konferenzschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Berlin Heidelberg [u.a.] Springer 2007
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 4713
In: Pattern recognition

Schlagworte:
Online-Zugang:Cover: https://swbplus.bsz-bw.de/bsz27183482xcov.jpg
Verlag, Zentralblatt MATH, Inhaltstext: https://zbmath.org/?q=an:1145.68303
Volltext
Verfasserangaben:DAGM Symposium
Beschreibung
ISBN:3540749330
9783540749332