Precision measurements with SMI and 4Pi microscopy

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Baddeley, David (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Buch/Monographie Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2007
Schlagworte:
Online-Zugang: Volltext
Verfasserangaben:presneted by David Baddeley

MARC

LEADER 00000cam a2200000 c 4500
001 1345106483
003 DE-627
005 20240503202521.0
007 tu
008 071206s2007 xx ||||| m 00| ||eng c
035 |a (DE-627)1345106483 
035 |a (DE-576)275106489 
035 |a (DE-599)BSZ275106489 
035 |a (OCoLC)254592770 
035 |a (OCoLC)315848488 
040 |a DE-627  |b ger  |c DE-627  |e rakwb 
041 |a eng 
084 |a 29  |2 sdnb 
100 1 |a Baddeley, David  |0 (DE-588)133802116  |0 (DE-627)55638766X  |0 (DE-576)300114664  |4 aut 
245 1 0 |a Precision measurements with SMI and 4Pi microscopy  |c presneted by David Baddeley 
264 1 |c 2007 
300 |a XIV, 192 S.  |b Ill., graph. Darst. 
336 |a Text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a ohne Hilfsmittel zu benutzen  |b n  |2 rdamedia 
338 |a Band  |b nc  |2 rdacarrier 
500 |a Zsfassung in dt. Sprache 
502 |a Heidelberg, Univ., Diss., 2007 
583 1 |a Archivierung prüfen  |c 20200919  |f DE-640  |z 2  |2 pdager 
583 1 |a Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet  |f DISS  |x XA-DE-BW  |2 pdager  |5 DE-16 
655 7 |a Hochschulschrift  |0 (DE-588)4113937-9  |0 (DE-627)105825778  |0 (DE-576)209480580  |2 gnd-content 
689 0 0 |d s  |0 (DE-588)4731724-3  |0 (DE-627)365888702  |0 (DE-576)215841581  |a Vier-Pi-Mikroskopie  |2 gnd 
689 0 |5 (DE-627) 
751 |a Heidelberg  |0 (DE-588)4023996-2  |0 (DE-627)106300814  |0 (DE-576)208952578  |4 uvp 
776 0 8 |i Erscheint auch als  |n Online-Ausgabe  |a Baddeley, David  |t Precision measurements with SMI and 4PiMicroscopy  |d 2007  |h Online-Ressource  |w (DE-627)1645917827  |w (DE-576)27607811X 
951 |a BO 
990 |a Vier-Pi-Mikroskopie 
992 |a 20230203 
993 |a Thesis 
998 |g 133802116  |a Baddeley, David  |m 133802116:Baddeley, David  |d 130000  |d 130001  |e 130000PB133802116  |e 130001PB133802116  |k 0/130000/  |k 1/130000/130001/  |p 1  |x j  |y j 
999 |a KXP-PPN1345106483  |e 4263275616 
BIB |a Y 
JSO |a {"note":["Zsfassung in dt. Sprache"],"type":{"bibl":"thesis"},"recId":"1345106483","language":["eng"],"title":[{"title_sort":"Precision measurements with SMI and 4Pi microscopy","title":"Precision measurements with SMI and 4Pi microscopy"}],"person":[{"family":"Baddeley","given":"David","display":"Baddeley, David","role":"aut"}],"noteThesis":["Heidelberg, Univ., Diss., 2007"],"physDesc":[{"extent":"XIV, 192 S.","noteIll":"Ill., graph. Darst."}],"origin":[{"dateIssuedKey":"2007","dateIssuedDisp":"2007"}],"id":{"eki":["1345106483"]},"name":{"displayForm":["presneted by David Baddeley"]}} 
SRT |a BADDELEYDAPRECISIONM2007