Precision measurements with SMI and 4Pi microscopy

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Baddeley, David (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Book/Monograph Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2007
Schlagworte:
Online-Zugang: Volltext
Verfasserangaben:presneted by David Baddeley
Beschreibung
Beschreibung:Zsfassung in dt. Sprache