Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Titze, Benjamin (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Book/Monograph Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2013
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis: http://d-nb.info/1041654715/04
Volltext
Verfasserangaben:put forward by Bnjamin Titze
Beschreibung
Beschreibung:Zsfassung in dt. Sprache