Soldat, J. (2018). Characterization, operation and wafer-level testing of an ultra-fast 4k pixel readout ASIC for the DSSC x-ray detector at the European XFEL.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Soldat, Jan. Characterization, Operation and Wafer-level Testing of an Ultra-fast 4k Pixel Readout ASIC for the DSSC X-ray Detector at the European XFEL. Heidelberg, 2018.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Soldat, Jan. Characterization, Operation and Wafer-level Testing of an Ultra-fast 4k Pixel Readout ASIC for the DSSC X-ray Detector at the European XFEL. 2018.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.