Characterization, operation and wafer-level testing of an ultra-fast 4k pixel readout ASIC for the DSSC x-ray detector at the European XFEL
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Book/Monograph Hochschulschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Heidelberg
2018
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: |
|
| Verfasserangaben: | put forward by Dipl.-Phys. Jan Soldat ; referees: Prof. Dr. Peter Fischer [und ein weiterer Gutachter] |
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Characterization, operation and wafer-level testing of an ultra-fast 4k pixel readout ASIC for the DSSC x-ray detector at the European XFEL
2018
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