Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques: 12th International Conference, STM'03; Eindhoven, Netherlands, 21-25 July 2003

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Technische Universiteit Eindhoven (BerichterstatterIn) , STM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Koenraad, Paulus M. (HerausgeberIn) , Kemerink, Martijn (HerausgeberIn)
Dokumenttyp: Konferenzschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Melville, NY American Institute of Physics 2003
Schriftenreihe:AIP conference proceedings 696
In: AIP conference proceedings (696)

Schlagworte:
Online-Zugang:Verlag, Abstracts: http://aip.scitation.org/toc/apc/696/1
Volltext
Verfasserangaben:eds. P. M. Koenraad, M. Kemerink
Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:CD/DVD/Blu-ray
Dokumenttyp:Systemvoraussetzungen: Windows 95, 98, NT, XP, and 2000 platform; Macintosh platform; UNIX platform.
ISBN:0735401683
9780735401686