Precision measurements with SMI and 4PiMicroscopy

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Baddeley, David (Author)
Format: Book/Monograph Thesis
Language:English
Published: 2007
Subjects:
Online Access:Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-opus-79603
Get full text
Author Notes:David Baddeley

MARC

LEADER 00000cam a2200000 c 4500
001 1645917827
003 DE-627
005 20230207064142.0
007 cr uuu---uuuuu
008 080114s2007 xx |||||om 00| ||eng c
024 7 |a urn:nbn:de:bsz:16-opus-79603  |2 urn 
035 |a (DE-627)1645917827 
035 |a (DE-576)27607811X 
035 |a (DE-599)BSZ27607811X 
035 |a (OCoLC)315697538 
035 |a (OCoLC)315697538 
040 |a DE-627  |b ger  |c DE-627  |e rakwb 
041 |a eng 
082 0 4 |a 530 
084 |a 29  |2 sdnb 
100 1 |a Baddeley, David  |0 (DE-588)133802116  |0 (DE-627)55638766X  |0 (DE-576)300114664  |4 aut 
245 1 0 |a Precision measurements with SMI and 4PiMicroscopy  |c David Baddeley 
246 1 |i Übers. des Hauptsacht.  |a Präzisionsmessungen mittels SMI und 4Pi Mikroskopie 
264 1 |c 2007 
300 |a Online-Ressource 
336 |a Text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a Computermedien  |b c  |2 rdamedia 
338 |a Online-Ressource  |b cr  |2 rdacarrier 
500 |a Online publiziert: 2008 
502 |a Heidelberg, Univ., Diss., 2007 
650 0 7 |0 (DE-588)4176606-4  |0 (DE-627)105355224  |0 (DE-576)209971959  |a Quantitative Mikroskopie  |2 gnd 
650 0 7 |0 (DE-588)4731724-3  |0 (DE-627)365888702  |0 (DE-576)215841581  |a Vier-Pi-Mikroskopie  |2 gnd 
650 0 7 |0 (DE-588)7580047-0  |0 (DE-627)543276341  |0 (DE-576)271354577  |a Virtuelle Mikroskopie  |2 gnd 
650 0 7 |0 (DE-588)4039238-7  |0 (DE-627)106228692  |0 (DE-576)20903419X  |a Mikroskopie  |2 gnd 
650 0 7 |0 (DE-588)4014854-3  |0 (DE-627)10633848X  |0 (DE-576)208909702  |a Entfaltung  |g Mathematik  |2 gnd 
655 7 |a Hochschulschrift  |0 (DE-588)4113937-9  |0 (DE-627)105825778  |0 (DE-576)209480580  |2 gnd-content 
751 |a Heidelberg  |0 (DE-588)4023996-2  |0 (DE-627)106300814  |0 (DE-576)208952578  |4 uvp 
776 0 8 |i Erscheint auch als  |n Druck-Ausgabe  |a Baddeley, David  |t Precision measurements with SMI and 4Pi microscopy  |d 2007  |h XIV, 192 S.  |w (DE-627)1345106483  |w (DE-576)275106489 
856 4 0 |u http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-opus-79603  |q application/pdf  |x Resolving-System  |z kostenfrei  |3 Volltext 
951 |a BO 
992 |a 20230203 
993 |a Thesis 
994 |a 2007 
998 |g 133802116  |a Baddeley, David  |m 133802116:Baddeley, David  |d 130000  |d 130001  |e 130000PB133802116  |e 130001PB133802116  |k 0/130000/  |k 1/130000/130001/  |p 1  |x j  |y j 
999 |a KXP-PPN1645917827  |e 4263278984 
BIB |a Y 
JSO |a {"recId":"1645917827","language":["eng"],"note":["Online publiziert: 2008"],"type":{"bibl":"thesis","media":"Online-Ressource"},"titleAlt":[{"title":"Präzisionsmessungen mittels SMI und 4Pi Mikroskopie"}],"person":[{"given":"David","family":"Baddeley","role":"aut","display":"Baddeley, David"}],"noteThesis":["Heidelberg, Univ., Diss., 2007"],"title":[{"title_sort":"Precision measurements with SMI and 4PiMicroscopy","title":"Precision measurements with SMI and 4PiMicroscopy"}],"physDesc":[{"extent":"Online-Ressource"}],"name":{"displayForm":["David Baddeley"]},"id":{"uri":["urn:nbn:de:bsz:16-opus-79603"],"eki":["1645917827"]},"origin":[{"dateIssuedDisp":"2007","dateIssuedKey":"2007"}]} 
SRT |a BADDELEYDAPRECISIONM2007