Precision measurements with SMI and 4PiMicroscopy
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Book/Monograph Hochschulschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
2007
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-opus-79603
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| Verfasserangaben: | David Baddeley |
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