Investigation of an amorphous silicon flat-panel detector for ion radiography

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Telsemeyer, Julia (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Book/Monograph Hochschulschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2012
DOI:10.11588/heidok.00013590
Schlagworte:
Online-Zugang:Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-opus-135904
Resolving-System, Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-opus-135904
Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, Volltext: http://d-nb.info/1179785657/34
Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/13590
Resolving-System, Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00013590
Volltext
Verfasserangaben:presented by Julia Telsemeyer
Beschreibung
Beschreibung:Online Resource
DOI:10.11588/heidok.00013590