A high rate testbeam data acquisition system and characterization of high voltage monolithic active pixel sensors
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Dokumenttyp: | Book/Monograph Hochschulschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Heidelberg
2019
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| DOI: | 10.11588/heidok.00025785 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://dx.doi.org/10.11588/heidok.00025785 Resolving-System, kostenfrei, Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-257853 Resolving-System, Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-257853 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek, Volltext: http://d-nb.info/117704532X/34 Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/25785 Resolving-System, Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00025785 
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| Verfasserangaben: | put forward by Lennart Huth, born in Buchen (Odenwald) ; referees: Prof.Dr. André Schöning [und ein weiterer Gutachter] |
| Beschreibung: | Online Resource |
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| DOI: | 10.11588/heidok.00025785 |