Artifact correction and real-time scatter estimation for X-ray computed tomography in industrial metrology
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Book/Monograph Hochschulschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Heidelberg
[2019?]
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: |
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| Verfasserangaben: | put forward by M.Sc. Joscha Maier ; referees: Prof. Dr. Peter Bachert, Prof. Dr. Marc Kachelrieß |
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