Maier, J. (2019). Artifact correction and real-time scatter estimation for X-ray computed tomography in industrial metrology.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Maier, Joscha. Artifact Correction and Real-time Scatter Estimation for X-ray Computed Tomography in Industrial Metrology. Heidelberg, 2019.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Maier, Joscha. Artifact Correction and Real-time Scatter Estimation for X-ray Computed Tomography in Industrial Metrology. 2019.
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