An extreme-ultraviolet frequency comb enabling frequency metrology with highly charged ions
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Book/Monograph Hochschulschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Heidelberg
2020
|
| DOI: | 10.11588/heidok.00028798 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Resolving-System, kostenfrei: https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-287984 Resolving-System, kostenfrei: http://dx.doi.org/10.11588/heidok.00028798 Verlag, kostenfrei, Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/28798 Resolving-System: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-287984 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek: https://d-nb.info/1217715274/34 Resolving-System: https://doi.org/10.11588/heidok.00028798 |
| Verfasserangaben: | put forward by M.Sc. Janko Nauta ; referees: PD Dr. Jóse R. Crespo López-Urrutia |
| Beschreibung: | Online Resource |
|---|---|
| DOI: | 10.11588/heidok.00028798 |