Buchumschlag

IEEE transactions on device and materials reliability

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers (VerfasserIn)
Dokumenttyp: Edited Volume Zeitschrift
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York, NY IEEE 2001-
Volumes / Articles: Show Volumes / Articles.
ISSN:1558-2574
1530-4388
Schlagworte:
Zeitschrift
Online-Ressource
Zuverlässigkeit
Elektronik
Online-Zugang:Frontdoor-Url: https://ezb.ur.de/?2061445-7
Verlag: https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=7298
Volltext
Beschreibung
Veröffentlicht:1.2001 -
Beschreibung:Gesehen am 05.12.06
Beschreibung:Online Resource
ISSN:1558-2574
1530-4388

Ähnliche Einträge