Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process
von Aglieri Rinella, Gianluca (VerfasserIn)
, Andronic, Anton (VerfasserIn)
, Antonelli, Matias (VerfasserIn)
, Aresti, Mauro (VerfasserIn)
, Baccomi, Roberto (VerfasserIn)
, Becht, Pascal (VerfasserIn)
, Beole, Stefania (VerfasserIn)
, Braach, Justus (VerfasserIn)
, Buckland, Matthew Daniel (VerfasserIn)
, Buschmann, Eric (VerfasserIn)
, Camerini, Paolo (VerfasserIn)
, Carnesecchi, Francesca (VerfasserIn)
, Cecconi, Leonardo (VerfasserIn)
, Charbon, Edoardo (VerfasserIn)
, Contin, Giacomo (VerfasserIn)
, Dannheim, Dominik (VerfasserIn)
, de Melo, Joao (VerfasserIn)
, Deng, Wenjing (VerfasserIn)
, di Mauro, Antonello (VerfasserIn)
, Hasenbichler, Jan (VerfasserIn)
, Hillemanns, Hartmut (VerfasserIn)
, Hong, Geun Hee (VerfasserIn)
, Isakov, Artem (VerfasserIn)
, Junique, Antoine (VerfasserIn)
, Kluge, Alex (VerfasserIn)
, Kotliarov, Artem (VerfasserIn)
, Křížek, Filip (VerfasserIn)
, Lautner, Lukas (VerfasserIn)
, Mager, Magnus (VerfasserIn)
, Marras, Davide (VerfasserIn)
, Martinengo, Paolo (VerfasserIn)
, Masciocchi, Silvia (VerfasserIn)
, Menzel, Marius Wilm (VerfasserIn)
, Munker, Magdalena (VerfasserIn)
, Piro, Francesco (VerfasserIn)
, Rachevski, Alexandre (VerfasserIn)
, Rebane, Karoliina (VerfasserIn)
, Reidt, Felix (VerfasserIn)
, Russo, Roberto (VerfasserIn)
, Sanna, Isabella (VerfasserIn)
, Sarritzu, Valerio (VerfasserIn)
, Senyukov, Serhiy (VerfasserIn)
, Snoeys, Walter (VerfasserIn)
, Sonneveld, Jory (VerfasserIn)
, Šuljić, Miljenko (VerfasserIn)
, Svihra, Peter (VerfasserIn)
, Tiltmann, Nicolas (VerfasserIn)
, Usai, Gianluca (VerfasserIn)
, Van Beelen, Jacob Bastiaan (VerfasserIn)
, Vassilev, Mirella Dimitrova (VerfasserIn)
, Vernieri, Caterina (VerfasserIn)
, Villani, Anna (VerfasserIn)
,
Signatur:
Wird geladen …
Standort:
Wird geladen …
Article (Journal)
Online Resource